溫度沖擊ESS試驗箱

簡要描述：溫度沖擊ESS試驗箱為了仿真不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。

所屬分類：冷熱沖擊快速溫變試驗箱

更新時間：2024-05-23

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	產地類別	國產
應用領域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

溫度沖擊ESS試驗箱系統結構可分為高溫槽預熱區，低溫槽預冷區兩部分，通過控制移動式提籃試驗樣品放置區快速移動到低溫槽或高溫槽的方式達到快速冷熱沖擊試驗，試驗過程試驗樣品隨同移動式提籃一起移動。熱應力速變試驗箱相比高低溫兩箱式冷熱沖擊試驗箱具有更快的溫度轉換到達速度，應力速變時間小于10秒，為試驗樣品提供更嚴苛的測試。熱應力速變試驗箱適用于考核整機產品、元器件、零部件、材料等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗箱以在短時間內評估試驗樣品因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害，能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫值、試驗樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業*的測試設備。

溫度沖擊ESS篩選箱特點：

1、行業*實現3~30℃/min、10~40℃/min溫變速率；整機實現快速溫變、三箱式溫度沖擊、兩箱式溫度沖擊試驗；2、現代化設計模組化制造技術控制能力；試驗循環進行700H以上除霜一次；3、設計*觀察視窗達到物測目視效果；4、采色屏32位控制系統以太網E化管理，USB數日方對你存取功能；5、可程式負載電源4路ON/OFF輸出控制，保護待測品及設備安全；6、獨立待測品防凝露功能和超溫，無風、煙霧保護功能；7、可擴充APP移動平臺化管理；8、可以擴展網絡視頻監控功能，與數據測試同步；9、環保的制冷流量控制，節能省電升降溫速率快；10、*的運行模式設計，試驗結束后箱體內回常溫保護待測品狀態；11、控制系統設備保養時間自動提醒及故障病歷軟件設計功能；設備可擴充遠程服務功能，提供機臺使用教學光碟。

溫度沖擊ESS試驗箱技術參數：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、汽車引擎蓋下環境)
	11℃/min→	無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試
	5℃/min→	錫須溫度循環試驗

技術規格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時間設定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃